參數
可靠的AutoID用于元素識別；準確的定量-所有計數率；峰值偏移和分辨率變化穩(wěn)定保證在1,000到100,000 cps之間；以非常高的計數率進行全面的軟件校正，包括堆積校正；集成的分析硬件鏈，可以實現快速、可靠的分析性能
X射線能譜分析，簡寫EDS，通常通過配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用，是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量進行分析：利用電子束與物質作用時產生的特征X射線，來提供樣品化學組成方面的信息，可定性、半定量檢測大部分元素（Be4-PU94），可進行表面污染物的分析。
適用標準
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
希格瑪檢測（江蘇）有限公司于2020年12月創(chuàng)建，位于長江之濱的無錫江陰市臨港科創(chuàng)園，致力于金屬材料檢測服務和檢測技術的研發(fā)。
